INNE EBOOKI AUTORA
Koszyk
-33%
Cyfrowe metody badania przetworników analogowo-cyfrowych
Autor:
Wydawca:
Format:
pdf, ibuk
Książka dotyczy przetworników A/C typu Nyquista. Poruszono w niej zagadnienia związane z właściwościami przetworników, ich opisem i badaniem. Zarówno opis, jak i metody badania tych właściwości są uniwersalne – ich stosowalność nie zależy od zasady działania (struktury) przetworników. Przedstawiono cyfrowe metody badania przetworników A/C oparte na cyfrowym przetwarzaniu sygnałów. Książka nie dotyczy zagadnień związanych z technologią i działaniem poszczególnych typów tych przetworników. Przetworniki A/C są elementami powszechnie wykorzystywanymi w urządzeniach i systemach elektronicznych, profesjonalnych i nieprofesjonalnych, jednostkowego i powszechnego użytku. Urządzenia i systemy, w których stosowane są rozwiązania techniczne oparte na konwersji a-c, mają w większości przypadków przewagę nad urządzeniami i systemami opartymi na rozwiązaniach analogowych i dlatego stały się dominujące.
| Rok wydania | 2010 |
|---|---|
| Liczba stron | 86 |
| Kategoria | Elektronika |
| Wydawca | Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej |
| ISBN-13 | 978-83-7143-913-1 |
| Numer wydania | 1 |
| Język publikacji | polski |
| Informacja o sprzedawcy | ePWN sp. z o.o. |
POLECAMY
Ciekawe propozycje
Spis treści
| Wykaz skrótów i oznaczeń 5 | |
| 1. Wstęp | 7 |
| 2. Podstawowe zagadnienia związane z uzyskiwaniem informacji o właściwościach przetworników A/C 10 | |
| 3. Lokalizacja przetworników A/C w systemach z konwersją a-c | 14 |
| 3.1. Lokalizacja przetworników A/C w układach czujnikowych | 14 |
| 3.2. Lokalizacja przetworników A/C w systemach o funkcjach definiowanych programowo | 15 |
| 4. Charakterystyka we-wy przetwornika A/C | 17 |
| 4.1. Charakterystyka idealna | 17 |
| 4.2. Charakterystyka rzeczywista | 21 |
| 4.2.1. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy przetwornika A/C | 21 |
| 4.2.2. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy idealnego przetwornika A/C | 21 |
| 4.2.3. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy rzeczywistego przetwornika A/C z błędem przesunięcia lub wzmocnienia | 21 |
| 4.2.4. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy rzeczywistego przetwornika A/C z błędami przesunięcia, wzmocnienia i nieliniowości | 23 |
| 5. Zasady badania przetworników A/C 30 | |
| 5.1. Zasady ogólne | 30 |
| 5.2. Sygnał testujący | 30 |
| 5.2.1. Sygnał stały | 30 |
| 5.2.2. Sygnały zmienne o równomiernym rozkładzie wartości | 31 |
| 5.2.3. Sygnał sinusoidalny | 32 |
| 5.2.4. Uwagi o stosowaniu zmiennych sygnałów testujących | 34 |
| 5.3. Struktura systemu do badania przetworników A/C | 35 |
| 5.4. Strategia próbkowania – próbkowanie koherentne i quasi-koherentne | 37 |
| 5.5. Jitter źródła sygnału wejściowego i sygnału zegarowego | 39 |
| 5.6. Ocena różnicy wartości parametru SNR przy niewystępowaniu i występowaniu jitteru. Dobór filtrów pasmowych | 40 |
| 5.7. Minimalna liczba próbek w próbkowaniu koherentnym i quasi-koherentnym | 41 |
| 6. Metoda typu p badania przetworników A/C | 46 |
| 7. Metoda typu t badania przetworników A/C 50 | |
| 7.1. Wprowadzenie | 50 |
| 7.2. Charakterystyka metody | 50 |
| 7.3. Algorytm dla modelu 3-parametowego | 51 |
| 7.4. Algorytm dla modelu 4-parametrowego | 52 |
| 7.5. Estymowane parametry | 54 |
| 7.6. Cechy metody dynamicznej typu t | 55 |
| 8. Metoda typu f badania przetworników A/C | 56 |
| 8.1. Zasady ogólne | 56 |
| 8.2. Opis metody | 56 |
| 8.3. Interpretacja widma sygnału na wyjściu przetwornika A/C – skojarzenie elementów widma z rodzajami zniekształceń sygnału | 57 |
| 8.4. Estymowane parametry | 58 |
| 8.5. Interpretacja wyników DFT sygnału na wyjściu przetwornika A/C i ich zastosowanie do estymacji parametrów | 62 |
| 8.6. Związek rozmiaru FFT z rozróżnialnością elementów w widmie sygnału wyjściowego z przetwornika A/C | 65 |
| 8.7. Cechy metody dynamicznej typu f | 67 |
| 9. Modyfikacja charakterystyki we-wy przetwornika A/C – kwantowanie z sygnałem ditherowym | 69 |
| 9.1. Zasada i cele konwersji a-c z sygnałem ditherowym | 69 |
| 9.2. Randomizacja i redukcja błędu kwantowania | 72 |
| 9.3. Efekt rozróżnialności wartości pośrednich i efekt likwidacji nieciągłości charakterystyki we-wy przetwornika A/C | 75 |
| 9.4. Równorzędność kwantowania z sygnałem ditherowym i nadpróbkowania oceniana na podstawie kryterium SNR | 80 |
| Literatura | 83 |
KUP NA PREZENT
Cyfrowe metody badania przetworników analogowo-cyfrowych
10,72 zł
Uzupełnij informacje na temat odbiorcy.
Produkt został pomyślnie dodany do koszyka.
Nieudana próba zakupu produktu. Spróbuj jeszcze raz.
Wypożyczaj w abonamencie!
Już od 2,66 zł za ebooka
